ИНТЕРФЕРЕ́НЦИЯ СВЕ́ТА

ИНТЕРФЕРЕ́НЦИЯ СВЕ́ТА, про­стран­ст­вен­ное пе­ре­рас­пре­де­ле­ние энер­гии све­то­во­го из­лу­че­ния при на­ло­же­нии двух или не­сколь­ких све­то­вых волн; ча­ст­ный слу­чай об­ще­го яв­ле­ния ин­тер­фе­рен­ции волн. Не­ко­то­рые яв­ле­ния И. с. ис­сле­до­ва­лись ещё И. Нью­то­ном в 17 в., но не мог­ли быть им объ­яс­не­ны с точ­ки зре­ния его кор­пус­ку­ляр­ной тео­рии. Пра­виль­ное объ­яс­не­ние И. с. как ти­пич­но вол­но­во­го яв­ле­ния бы­ло да­но в нач. 19 в. Т. Юн­гом и О. Фре­не­лем. Наи­бо­лее ши­ро­ко извест­на И. с., ха­рак­те­ри­зую­щая­ся об­ра­зо­ва­ни­ем ста­цио­нар­ной (по­сто­ян­ной во вре­ме­ни) ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны – ре­гу­ляр­но­го че­ре­до­ва­ния в про­стран­ст­ве об­лас­тей по­вы­шен­ной и по­ни­жен­ной ин­тен­сив­но­сти све­та, по­лу­чаю­щей­ся в ре­зуль­та­те на­ло­же­ния ко­ге­рент­ных све­то­вых пуч­ков, т. е. в ус­ло­ви­ях по­сто­ян­ной раз­но­сти фаз. Ре­же и толь­ко в спец. усло­ви­ях экс­пе­ри­мен­та на­блю­да­ют­ся яв­ле­ния не­ста­цио­нар­ной И. с., к ко­то­рым от­но­сят­ся све­то­вые бие­ния и эф­фек­ты кор­ре­ля­ции ин­тен­сив­но­стей. Стро­гое объ­яс­не­ние яв­ле­ний не­ста­цио­нар­ной И. с. тре­бу­ет учё­та как вол­но­вых, так и кор­пус­ку­ляр­ных свойств све­та и да­ёт­ся на ос­но­ве кван­то­вой элек­тро­ди­на­ми­ки.

Стационарная интерференция света

Воз­ни­ка­ет при на­ли­чии ко­ге­рент­но­сти (оп­ре­де­лён­ной кор­ре­ля­ции фаз) на­ла­гаю­щих­ся волн. Вза­им­но ко­ге­рент­ные све­то­вые пуч­ки мо­гут быть по­лу­че­ны пу­тём раз­де­ле­ния и по­сле­дую­ще­го све­де­ния лу­чей, ис­хо­дя­щих от об­ще­го ис­точ­ни­ка све­та. При этом тре­бо­ва­ние ко­ге­рент­но­сти на­ла­га­ет не­ко­то­рые ог­ра­ни­че­ния на уг­ло­вые раз­ме­ры ис­точ­ни­ка и на ши­ри­ну спек­тра из­лу­че­ния.

Рис. 1. Схема опыта Юнга.

Об­ра­зо­ва­ние ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны удоб­но про­сле­дить на идеа­ли­зи­ро­ван­ной схе­ме клас­сич. экс­пе­ри­мен­та Юн­га (рис. 1). То­чеч­ный ис­точ­ник $S$ све­та с дли­ной вол­ны $λ$ ос­ве­ща­ет два ма­лых от­вер­стия в эк­ра­не $A$, ко­то­рые ста­но­вят­ся вто­рич­ны­ми вза­им­но ко­ге­рент­ны­ми ис­точ­ни­ка­ми све­та (см. Ди­фрак­ция све­та). На эк­ра­не $B$ на­блю­да­ет­ся ин­тер­фе­рен­ци­он­ная кар­ти­на, вы­зван­ная ин­тер­фе­рен­ци­ей двух соз­дан­ных сис­тем волн. В со­от­вет­ст­вии с су­пер­по­зи­ции прин­ци­пом на­пря­жён­ность элек­тро­маг­нит­но­го по­ля $E_Q$ в про­из­воль­ной точ­ке $Q$ эк­ра­на $B$ да­ёт­ся сум­мой на­пря­жён­но­стей по­лей $E_{1Q}$ и $E_2Q$, соз­дан­ных в этой точ­ке ис­точни­ка­ми 1 и 2. На­блю­дае­мой ве­ли­чи­ной яв­ля­ет­ся ин­тен­сив­ность из­лу­че­ния, па­даю­ще­го на эк­ран, про­пор­цио­наль­ная ср. квад­ра­ту на­пря­жён­но­сти по­ля. Пред­став­ляя на­пря­жён­ность по­ля $E_i(t,\, s)$ ка­ж­до­го ис­точ­ни­ка ($i=1,\, 2$) гар­мо­нич. функ­ци­ей вре­ме­ни $t$ и рас­стоя­ния $s$ вдоль на­прав­ле­ния рас­про­стра­не­ния $$E_i(t,\, s)=Ei\cos [2π(νt+s/λ=φ_0)],$$ где $ν$ – час­то­та, $φ_0$ – на­чаль­ная фа­за све­то­вых ко­ле­ба­ний, мож­но вы­ра­же­ние для ин­тен­сив­но­сти све­та $I_Q$ по­лу­чить в ви­де: $$I_Q=I_1+I_2+2\sqrt{I_1I_2} \cos [2π(δ+δ_0)/λ].\quad  (*)$$ Здесь $I_1$ и $I_2$ – ин­тен­сив­но­сти све­та в точ­ке $Q$, соз­да­вае­мые ка­ж­дым ис­точ­ни­ком от­дель­но; $δ$ – оп­тич. раз­ность хо­да ин­тер­фе­ри­рую­щих лу­чей: $δ=n_1r_1-n_2r_2$; $r_1$ и $r_2$ – рас­стоя­ния от от­вер­стий 1 и 2 до точ­ки $Q$; $n_1$ и $n_2$ – по­ка­за­те­ли пре­лом­ле­ния сре­ды (в слу­чае воз­ду­ха $n_1 =n_2=1$); $δ_0$ – oптич. раз­ность хо­да лу­чей от ис­точ­ни­ка $S$ до то­чек 1 и 2.

Рис. 2. Схема интерференции света с использованием билинзы Бийе.

Из фор­му­лы (*) сле­ду­ет, что ин­тен­сив­ность све­та в дан­ной точ­ке эк­ра­на от­ли­ча­ет­ся от сум­мы ин­тен­сив­но­стей $I_1+I_2$, соз­да­вае­мых ис­точ­ни­ка­ми 1 и 2 при не­за­ви­си­мом ос­ве­ще­нии ими эк­ра­на. При со­вме­ст­ном дей­ст­вии ко­ге­рент­ных ис­точ­ни­ков 1 и 2 ин­тен­сив­ность $I_Q$ ока­зы­ва­ет­ся от­ли­чаю­щей­ся на ве­ли­чи­ну, опи­сы­вае­мую треть­им, ин­тер­фе­рен­ци­он­ным, чле­ном фор­му­лы (*). И. с. не ме­ня­ет пол­ной све­то­вой энер­гии, по­па­даю­щей на эк­ран $B$, а лишь пе­ре­рас­пре­де­ля­ет её с об­ра­зо­ва­ни­ем ха­рак­тер­ной ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны. На эк­ра­не $B$ воз­ни­ка­ет сис­те­ма све­то­вых по­лос, ин­тен­сив­ность ко­то­рых в се­че­нии плос­ко­стью, про­хо­дя­щей че­рез ис­точ­ник и от­вер­стия 1 и 2, из­ме­ня­ет­ся, как по­ка­за­но гра­фи­че­ски сплош­ной ли­ни­ей на пра­вой час­ти рис. 1. Макс. ин­тен­сив­ность в ин­тер­ферен­ци­он­ной кар­ти­не на­блю­да­ет­ся при раз­но­сти хо­да, рав­ной чёт­но­му чис­лу по­лу­волн, ми­ни­маль­ная – при раз­но­сти хо­да, рав­ной не­чёт­но­му чис­лу по­лу­волн.

В ре­аль­ном опы­те ко­неч­ный раз­мер ис­точ­ни­ка све­та при­во­дит к па­де­нию кон­тра­ста ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны. Это обу­слов­ле­но тем, что чуть сме­щён­ный от­но­си­тель­но $S$ то­чеч­ный ис­точ­ник $S′$ да­ёт сме­щён­ную ин­тер­фе­рен­ци­он­ную кар­ти­ну (штри­хо­вая ли­ния на рис. 1). Сло­же­ние мно­же­ст­ва та­ких кар­тин от всех то­чек ис­точ­ни­ка при­во­дит к умень­ше­нию её рез­ко­сти.

Раз­брос длин волн $Δλ$ из­лу­че­ния ис­точ­ни­ка так­же яв­ля­ет­ся при­чи­ной сни­же­ния кон­тра­ста ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны, сни­же­ния тем боль­ше­го, чем вы­ше по­ря­док ин­тер­фе­рен­ции $η$, рав­ный це­лой час­ти от­но­ше­ния $δ/λ$. При ос­ве­ще­нии бе­лым све­том на эк­ра­не вид­на бе­лая цен­траль­ная по­ло­са ну­ле­во­го по­ряд­ка с при­мы­каю­щи­ми к ней бы­ст­ро ис­че­заю­щи­ми ра­дуж­ны­ми по­ло­са­ми. Ок­ра­ска по­лос свя­за­на с тем, что по­ло­же­ние мак­си­му­мов ин­тен­сив­но­сти, имею­щих по­ря­док $η≠0$, за­ви­сит от дли­ны вол­ны.

Су­ще­ст­ву­ет мно­го схем опы­тов и ес­те­ст­вен­ных си­туа­ций, в ко­то­рых на­блю­да­ет­ся И. с. Их наи­бо­лее су­ще­ст­вен­ные раз­ли­чия свя­за­ны с раз­ли­чия­ми в спо­со­бах по­лу­че­ния ко­ге­рент­ных пуч­ков све­та и в чис­ле ин­тер­фе­ри­рую­щих лу­чей. По спо­со­бам соз­да­ния ко­ге­рент­ных пуч­ков све­та вы­де­ля­ют схе­мы с де­ле­ни­ем вол­но­во­го фрон­та и с де­ле­ни­ем ам­пли­ту­ды.

При пер­вом спо­со­бе сво­дят­ся вме­сте све­то­вые пуч­ки, ис­ход­но раз­ли­чаю­щие­ся на­прав­ле­ни­ем рас­про­стра­не­ния от ис­точ­ни­ка. Та­кой прин­цип ис­поль­зу­ет­ся, напр., в опы­тах с при­ме­не­ни­ем би­лин­зы Бийе и др. Би­лин­за Бийе (рис. 2) пред­став­ля­ет со­бой вы­пук­лую лин­зу, раз­ре­зан­ную по диа­мет­ру на две час­ти, не­мно­го раз­дви­ну­тые в на­прав­ле­нии, пер­пен­ди­ку­ляр­ном оп­тич. оси; они об­ра­зу­ют дей­ст­ви­тель­ные изо­бра­же­ния $S_1$ и $S_2$ то­чеч­но­го ис­точ­ни­ка $S$. Ин­тер­фе­рен­ци­он­ные по­ло­сы на­блю­да­ют­ся в мо­но­хро­ма­тич. све­те в лю­бой плос­ко­сти об­лас­ти пе­ре­кры­тия рас­хо­дя­щих­ся пуч­ков от ис­точ­ни­ков $S_1$ и $S_2$ (по­ка­за­но штри­хов­кой). Из ин­тер­фе­рен­ци­он­ных уст­ройств с де­ле­ни­ем вол­но­во­го фрон­та боль­шое прак­тич. зна­че­ние в спек­тро­ско­пии име­ет ди­фрак­ци­он­ная ре­шёт­ка. Все схе­мы И. с. с де­ле­ни­ем вол­но­во­го фрон­та предъ­яв­ля­ют жё­ст­кие тре­бо­ва­ния к ма­ло­сти уг­ло­во­го раз­ме­ра ис­точ­ни­ка све­та. Напр., в опы­те Юн­га при ос­ве­ще­нии от­вер­стий 1 и 2 пря­мым сол­неч­ным све­том, т. е. ис­точ­ни­ком с уг­ло­вым раз­ме­ром все­го 0,5°, для по­лу­че­ния чёт­кой ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны рас­стоя­ние ме­ж­ду от­вер­стия­ми не долж­но пре­вы­шать не­сколь­ких де­сят­ков мик­ро­мет­ров. Имен­но на рез­кой за­ви­си­мо­сти кон­тра­ста ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны от раз­ме­ра ис­точ­ни­ка в схе­мах с де­ле­ни­ем вол­но­во­го фрон­та ос­но­ван ме­тод из­ме­ре­ния уг­ло­вых раз­ме­ров звёзд с по­мо­щью звёзд­но­го ин­тер­фе­ро­мет­ра.

В схе­мах И. с. с ам­пли­туд­ным де­ле­ни­ем вол­но­во­го по­ля из­лу­че­ние пер­вич­но­го ис­точ­ни­ка де­лит­ся по­лу­про­зрач­ны­ми гра­ни­ца­ми оп­тич. сред. Так, напр., воз­ни­ка­ет ши­ро­ко рас­про­стра­нён­ная в ес­те­ст­вен­ных ус­ло­ви­ях И. с. в тон­ких плён­ках, обу­слов­ли­ваю­щая ра­дуж­ное ок­ра­ши­ва­ние мас­ля­ных пя­тен на во­де, мыль­ных пу­зы­рей, крыль­ев на­се­ко­мых, ок­сид­ных плё­нок на ме­тал­лах и др. Во всех этих слу­ча­ях име­ет ме­сто И. с., от­ра­жён­но­го дву­мя по­верх­но­стя­ми плё­нок. В тон­ких плён­ках пе­ре­мен­ной тол­щи­ны при ос­веще­нии про­тя­жён­ным ис­точ­ни­ком све­та кар­ти­на ин­тер­фе­рен­ци­он­ных по­лос вос­при­ни­ма­ет­ся ло­ка­ли­зо­ван­ной на по­верх­но­сти плён­ки, при­чём дан­ная ин­тер­фе­рен­ци­он­ная по­ло­са со­от­вет­ст­ву­ет фик­си­ро­ван­ной тол­щи­не плён­ки (по­ло­сы рав­ной тол­щи­ны). Яр­кое ин­тер­фе­рен­ци­он­ное ок­ра­ши­ва­ние воз­ни­ка­ет толь­ко для весь­ма тон­ких плё­нок тол­щи­ной по­ряд­ка дли­ны вол­ны, т. е. в низ­ких по­ряд­ках ин­тер­фе­рен­ции. Для бо­лее тол­стых плё­нок ин­тер­фе­рен­ци­он­ная кар­ти­на вид­на при ос­ве­ще­нии мо­но­хро­ма­тич. све­том, напр. в све­те на­трие­вой лам­пы низ­ко­го дав­ле­ния. В тон­ких плён­ках стро­го по­сто­ян­ной тол­щи­ны (с точ­но­стью до ма­лых до­лей дли­ны вол­ны) оди­на­ко­вую раз­ность хо­да при­об­ре­та­ют при от­ра­же­нии от двух по­верх­но­стей плён­ки лу­чи, па­даю­щие на плён­ку под фик­си­ро­ван­ным уг­лом. Эти лу­чи в фо­каль­ной плос­ко­сти лин­зы об­ра­зу­ют ин­тер­фе­рен­ци­он­ные по­ло­сы рав­но­го на­кло­на. Ме­тод де­ле­ния ам­пли­ту­ды ши­ро­ко при­ме­ня­ет­ся в разл. схе­мах ин­тер­фе­ро­мет­ров, в ко­то­рых для раз­де­ле­ния вол­но­вых по­лей ис­поль­зу­ют­ся спец. по­лу­про­зрач­ные зер­ка­ла.

Тре­бо­ва­ния к мо­но­хро­ма­тич­но­сти све­та не за­ви­сят от спо­со­ба де­ле­ния вол­но­во­го по­ля, а оп­ре­де­ля­ют­ся толь­ко по­ряд­ком ин­тер­фе­рен­ции. Как от­ме­ча­лось вы­ше, И. с. в низ­ких по­ряд­ках на­блю­да­ет­ся да­же в бе­лом све­те. В изо­ли­ро­ван­ных спек­траль­ных ли­ни­ях га­зо­раз­ряд­ных ис­точ­ни­ков све­та мож­но на­блю­дать И. с. в очень вы­со­ких по­ряд­ках ($η$ по­ряд­ка 10⁵–10⁶), т. е. при раз­но­стях хо­да в де­сят­ки сан­ти­мет­ров. В из­лу­че­нии од­но­час­тот­ных ла­зе­ров мож­но на­блю­дать И. с. при прак­ти­че­ски не­ог­ра­ни­чен­ной раз­но­сти хо­да.

Поч­ти все упо­мя­ну­тые при­ме­ры И. с. от­но­си­лись к ти­пу двух­лу­че­вой ин­тер­фе­рен­ции, при ко­то­рой в ка­ж­дую точ­ку ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны свет от об­ще­го ис­точ­ни­ка при­хо­дит по двум пу­тям. При этом ин­тен­сив­ность све­та в ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­не гар­мо­ни­че­ски за­ви­сит от раз­но­сти хо­да лу­чей $[∼\cos^2(2πδ/λ )]$. Мно­го­лу­че­вая И. с. воз­ни­ка­ет при на­ло­же­нии мн. ко­ге­рент­ных волн, по­лу­чае­мых де­ле­ни­ем ис­ход­но­го вол­но­во­го по­ля с по­мо­щью мно­го­крат­ных от­ра­же­ний (напр., в ин­тер­фе­ро­мет­ре Фаб­ри – Пе­ро) или ди­фрак­ци­ей на мно­го­эле­мент­ных пе­рио­дич. струк­ту­рах (см.Ди­фрак­ци­он­ная ре­шёт­ка, Май­кель­со­на эше­лон). При мно­го­лу­че­вой И. с. яр­кость ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны яв­ля­ет­ся пе­рио­ди­че­ской, но не гар­мо­нич. функ­ци­ей $δ$ . Рез­кая за­ви­си­мость яр­ко­сти ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны от $δ$ при мно­го­лу­че­вой И. с. ши­ро­ко ис­поль­зу­ет­ся для спек­траль­но­го ана­ли­за све­та.

Ес­ли для на­блю­де­ния И. с. от те­п­ло­вых ис­точ­ни­ков при­хо­дит­ся со­блю­дать ряд ог­ра­ни­че­ний (при­чём воз­ни­каю­щая ин­тер­фе­рен­ци­он­ная кар­ти­на обыч­но име­ет ма­лые яр­кость и раз­ме­ры), то при ис­поль­зо­ва­нии ла­зе­ров в ка­че­ст­ве ис­точ­ни­ков све­та яв­ле­ния И. с. на­столь­ко яр­ки и ха­рак­тер­ны, что нуж­ны осо­бые ме­ры для по­лу­че­ния рав­но­мер­ной ос­ве­щён­ности. Чрез­вы­чай­но вы­со­кая ко­ге­рент­ность из­лу­че­ния ла­зе­ров при­во­дит к по­яв­ле­нию по­мех ин­тер­фе­рен­ци­он­но­го про­ис­хо­ж­де­ния при на­блю­де­нии объ­ек­тов, ос­ве­щён­ных ла­зе­ром. При ла­зер­ном ос­ве­ще­нии про­из­воль­ной ше­ро­хо­ва­той по­верх­но­сти ак­ко­мо­ди­ро­ван­ный на бес­ко­неч­ность глаз вос­при­ни­ма­ет хао­тич. кар­ти­ну све­то­вых пя­тен, мер­цаю­щую при сме­ще­ни­ях гла­за (см. Спек­лы). Это вы­зва­но тем, что ше­ро­хо­ва­тая по­верх­ность, рас­сеи­вая ла­зер­ное из­лу­че­ние, слу­жит ис­точ­ни­ком не­ре­гу­ляр­ной ин­тер­фе­рен­ци­он­ной кар­ти­ны, об­ра­зо­ва­нию ко­то­рой в обыч­ных ус­ло­ви­ях пре­пят­ст­ву­ет низ­кая про­стран­ст­вен­но-вре­мен­нáя ко­ге­рент­ность из­лу­че­ния те­п­ло­вых ис­точ­ни­ков. Близ­кую к это­му при­ро­ду име­ет эф­фект мер­ца­ния звёзд, яв­ляю­щих­ся ис­точ­ни­ка­ми све­та с очень боль­шой пло­ща­дью про­стран­ст­вен­ной ко­ге­рент­но­сти.

Нестационарная интерференция света

К ней от­но­сят­ся све­то­вые бие­ния, на­блю­даю­щие­ся при на­ло­же­нии све­то­вых по­лей разл. час­тот. В этом слу­чае воз­ни­ка­ет бе­гу­щая в про­стран­ст­ве ин­тер­фе­рен­ци­он­ная кар­ти­на, так что в за­дан­ной точ­ке про­стран­ст­ва ин­тен­сив­ность све­та пе­рио­ди­че­ски ме­ня­ет­ся во вре­ме­ни с час­то­той, рав­ной раз­но­сти час­тот ин­тер­фе­ри­рую­щих волн. Бие­ния воз­ни­ка­ют в обыч­ных (не­ла­зер­ных) схе­мах И. с. при из­ме­не­нии во вре­ме­ни раз­но­сти хо­да ин­тер­фе­ри­рую­щих лу­чей. При­ме­ром мо­жет слу­жить ин­тер­фе­ро­метр Май­кель­со­на с пе­ре­мен­ной дли­ной од­но­го из плеч. При пе­ре­ме­ще­нии вдоль лу­ча све­та од­но­го из зер­кал ин­тен­сив­ность све­та на вы­хо­де ин­тер­фе­ро­мет­ра пе­рио­ди­че­ски ме­ня­ет­ся, что мо­жет слу­жить сред­ст­вом из­ме­ре­ния ско­ро­сти очень мед­лен­ных пе­ре­ме­ще­ний. Напр., при дви­же­нии зер­ка­ла со ско­ро­стью 10^–6 м/с ин­тен­сив­ность све­та ме­ня­ет­ся с час­то­той ок. 4 Гц.

Бие­ния мо­гут на­блю­дать­ся и в из­лу­че­нии не­за­ви­си­мых ис­точ­ни­ков све­та. Для это­го их яр­ко­сти и спек­траль­ные плот­но­сти из­лу­че­ния долж­ны быть очень ве­ли­ки. Обе эти ха­рак­те­ри­сти­ки вы­ра­жа­ют­ся че­рез па­ра­метр вы­ро­ж­де­ния фо­то­нов $ρ$, рав­ный чис­лу фо­то­нов в объ­ё­ме ко­ге­рент­но­сти. При фо­то­элек­трич. ре­ги­ст­ра­ции бие­ний па­ра­метр $ρ$ в про­из­ве­де­нии с кван­то­вым вы­хо­дом при­ём­ни­ка оп­ре­де­ля­ет ве­ли­чи­ну сиг­на­ла бие­ний по от­но­ше­нию к фо­ну фо­тон­но­го шу­ма. Из­лу­че­ние ла­зе­ров силь­но вы­ро­ж­де­но $(ρ≫1)$, вслед­ст­вие че­го бие­ния в све­те двух ла­зе­ров и ме­ж­ду разл. ти­па­ми ко­ле­ба­ний од­но­го ла­зе­ра лег­ко на­блю­да­ют­ся. Эти бие­ния час­то иг­ра­ют вред­ную роль как ис­точ­ник мощ­но­го шу­ма ла­зе­ра.

Для те­п­ло­вых ис­точ­ни­ков обыч­но $ρ≪1$, по­это­му эф­фек­ты не­ста­цио­нар­ной И. с. в их из­лу­че­нии край­не ма­лы. Тем не ме­нее их уда­лось об­на­ру­жить в тон­ких экс­пе­ри­мен­тах по кор­ре­ля­ции ин­тен­сив­но­стей.

И. с. ис­поль­зу­ет­ся при спек­траль­ном ана­ли­зе све­та, для точ­но­го из­ме­ре­ния рас­стоя­ний, уг­лов, ско­ро­стей, в реф­рак­то­мет­рии. Боль­шое зна­че­ние ин­тер­фе­ро­мет­рия име­ет в оп­тич. про­из­вод­ст­ве как сред­ст­во кон­тро­ля ка­че­ст­ва по­верх­но­стей и лин­зо­вых сис­тем. Ин­тер­фе­рен­ци­он­ные яв­ле­ния ис­поль­зу­ют­ся для соз­дания све­то­фильт­ров, вы­со­ко­ка­че­ст­вен­ных зер­кал, про­свет­ляю­щих по­кры­тий для оп­тич. де­та­лей. И. с. со­став­ля­ет ос­но­ву оп­тич. го­ло­гра­фии.