Подпишитесь на наши новости
Вернуться к началу с статьи up
 

МА́ЙКЕЛЬСОНА ЭШЕЛО́Н

  • рубрика

    Рубрика: Физика

  • родственные статьи
  • image description

    В книжной версии

    Том 18. Москва, 2011, стр. 461

  • image description

    Скопировать библиографическую ссылку:




Авторы: П. В. Короленко

МА́ЙКЕЛЬСОНА ЭШЕЛО́Н, мно­го­лу­че­вой ин­тер­фе­рен­ци­он­ный оп­тич. при­бор, об­ла­даю­щий вы­со­кой раз­ре­шаю­щей спо­соб­но­стью. М. э. пред­став­ля­ет со­бой сто­пу стек­лян­ных или квар­це­вых плос­ко­па­рал­лель­ных пла­стин оди­на­ко­вой тол­щи­ны, сжа­тых в ви­де «ле­ст­ни­цы» со сту­пень­ка­ми рав­ной вы­со­ты d (рис.). Впер­вые по­стро­ен А. А. Май­кель­со­ном в 1898. Ис­поль­зу­ет­ся как дис­пер­ги­рую­щий эле­мент в спек­траль­ных при­бо­рах.

Ход лучей в прозрачном эшелоне Майкельсона: d – высота ступеньки; φ – угол дифракции лучей.

Па­рал­лель­ный пу­чок све­та S при па­де­нии на М. э. раз­де­ля­ет­ся на неск. лу­чей (по чис­лу пла­стин), ко­то­рые про­хо­дят раз­ные пу­ти в пла­сти­не и на кра­ях всех сту­пе­ней ис­пы­ты­ва­ют ди­фрак­цию. Ди­фра­ги­ро­ван­ные под оп­ре­де­лён­ны­ми уг­ла­ми φ лу­чи, ин­тер­фе­ри­руя ме­ж­ду со­бой, по­доб­но лу­чам в ди­фрак­ци­он­ной ре­шёт­ке, фор­ми­ру­ют со­от­вет­ст­вую­щие мак­си­му­мы и ми­ни­му­мы в рас­пре­де­ле­нии ин­тен­сив­но­сти про­шед­ше­го из­лу­че­ния. В от­ли­чие от ди­фракц. ре­шёт­ки, раз­ность хо­да двух со­сед­них лу­чей в М. э. со­став­ля­ет де­сят­ки ты­сяч длин волн, а чис­ло этих лу­чей не пре­вы­ша­ет 30–40. Раз­ре­шаю­щая спо­соб­ность спек­траль­ных при­бо­ров с М. э. чрез­вы­чай­но вы­со­ка (по­ряд­ка 3·105); их ис­поль­зу­ют для ана­ли­за очень уз­ких (ши­ри­ной 0,01–0,02 нм) уча­ст­ков спек­тра с пред­ва­рит. мо­но­хро­ма­ти­за­ци­ей из­лу­че­ния.

Кро­ме про­зрач­ных М. э., су­ще­ст­ву­ют от­ра­жа­тель­ные мо­ди­фи­ка­ции, при из­го­тов­ле­нии ко­то­рых на сту­пень­ки М. э. на­но­сит­ся от­ра­жаю­щий слой. Раз­ре­шаю­щая си­ла от­ра­жа­тель­ных М. э. при­мер­но в 4 раза вы­ше, чем про­зрач­ных. Обыч­но они ис­поль­зу­ют­ся в ИК-, мик­ро­вол­но­вой и мил­ли­мет­ро­вой об­лас­тях спек­тра, в ко­то­рых тре­бо­ва­ния к точ­но­сти из­го­тов­ле­ния пла­стин за­мет­но сни­жа­ют­ся.

Лит.: Дит­чберн Р. Фи­зи­че­ская оп­ти­ка. М., 1965; Ко­ро­лев Ф. А. Тео­ре­ти­че­ская оп­ти­ка. М., 1966; Ланд­сберг Г. С. Оп­ти­ка. 6-е изд. М., 2010.

Вернуться к началу