УЛЬТРАФИОЛЕ́ТОВАЯ СПЕКТРОСКОПИ́Я

УЛЬТРАФИОЛЕ́ТОВАЯ СПЕКТРО­СКО­ПИ́Я, со­во­куп­ность ме­то­дов ре­ги­ст­ра­ции и об­ра­бот­ки спек­тров ульт­ра­фио­ле­то­во­го из­лу­че­ния с це­лью по­лу­че­ния ин­фор­ма­ции о свой­ст­вах объ­ек­та, ис­пус­каю­ще­го (от­ра­жаю­ще­го) из­лу­че­ние, или сре­ды, че­рез ко­то­рую это из­лу­че­ние про­хо­дит. Для ис­сле­до­ва­ний в диа­па­зо­не ближ­не­го УФ-из­лу­че­ния мо­жет при­ме­нять­ся спек­траль­ная тех­ни­ка ви­ди­мо­го диа­па­зо­на (приз­мен­ные спек­тро­мет­ры, спек­тро­мет­ры с пло­ской ди­фракц. ре­шёт­кой по схе­ме Эбер­та и др.). В диа­па­зо­не даль­не­го (ва­ку­ум­но­го) УФ-из­лу­че­ния ис­поль­зу­ют зер­каль­ную оп­ти­ку с со­от­вет­ст­вую­щим ва­ку­ум­ным обо­ру­до­ва­ни­ем, спек­тро­мет­ры, ра­бо­таю­щие по схе­мам Па­ше­на – Рун­ге и Иг­ля (с во­гну­той сфе­рич. ди­фракц. ре­шёт­кой), а так­же по схе­мам сколь­зя­ще­го па­де­ния (в об­лас­ти длин волн λ<50 нм).

Так как в УФ-диа­па­зо­не спек­тра ле­жат мн. ре­зо­нанс­ные пе­ре­хо­ды ато­мов и элек­трон­но-ко­ле­бат. пе­ре­хо­ды мн. мо­ле­кул, У. с. ак­тив­но при­ме­ня­ет­ся в спек­траль­ном ана­ли­зе. Уро­вень фо­но­вой за­свет­ки при λ<200 нм зна­чи­тель­но ни­же, чем в ви­ди­мом и ИК-диа­па­зо­нах из­лу­че­ния, что по­зво­ля­ет с большей точ­но­стью оп­ре­де­лять кон­цен­тра­цию хи­мич. эле­мен­тов по спек­траль­ным ли­ни­ям их ио­нов. В УФ-диа­па­зо­не так­же ле­жат по­ло­сы по­гло­ще­ния разл. уг­ле­во­до­род­ных со­еди­не­ний, вы­яв­ле­ние ко­то­рых важ­но в ря­де тех­но­ло­гий хи­мич. пром-сти.

В об­лас­ти даль­не­го УФ-из­лу­че­ния ле­жат ли­нии мно­го­за­ряд­ных ио­нов с по­тен­циа­ла­ми ио­ни­за­ции до не­сколь­ких кэВ, а так­же со­от­вет­ст­вую­щие ре­ком­би­на­ци­он­ные скач­ки кон­ти­нуу­ма. Ана­лиз ин­тен­сив­но­стей та­ких ли­ний с по­мо­щью удар­но-ра­ди­ац. мо­де­лей по­зво­ля­ет про­во­дить ди­аг­но­сти­ку элек­трон­ной темп-ры из­лу­чаю­щей плаз­мы в диа­па­зо­не зна­че­ний до не­сколь­ких со­тен эВ. Из­ме­ре­ние ин­тен­сив­но­сти спек­траль­ных ли­ний, воз­ни­каю­щих при пе­ре­хо­дах из ме­та­ста­биль­ных со­стоя­ний ато­мов и ио­нов, а так­же изу­че­ние уши­ре­ния спек­траль­ных ли­ний рид­бер­гов­ских се­рий по­зво­ля­ют по­лу­чить ин­фор­ма­цию о плот­но­сти плаз­мы.

У. с. – один из ме­то­дов ас­тро­но­мич. ис­сле­до­ва­ний (см. Ульт­ра­фио­ле­то­вая ас­тро­но­мия).