СТРУКТУ́РНЫЙ ФА́КТОР
-
Рубрика: Физика
-
-
Скопировать библиографическую ссылку:
СТРУКТУ́РНЫЙ ФА́КТОР (структурная амплитуда), величина Fh𝑘l, характеризующая способность атомов в объёме элементарной ячейки кристалла когерентно рассеивать падающий рентгеновский луч. Направления рассеянных (дифрагированных) лучей задаются условиями Лауэ: a(cos α - cos α0)=hλ ; b(cos β - cos β0)=kλ ; c(cos γ - cos γ0)=lλ, где h, k, l – индексы Миллера (см. в ст. Индексы кристаллографические), α0, β0, γ0 и α, β, γ – углы, образуемые падающим и дифрагированным лучами с рёбрами a, b, c элементарной ячейки кристалла, λ – длина волны излучения. Рассеивающая способность отд. атома или иона характеризуется атомным фактором f. С. ф. кристалла, элементарная ячейка которого содержит N атомов, равен сумме атомных факторов fj с учётом фаз волн, рассеянных атомами ячейки.
С. ф. служат коэффициенты ряда Фурье для периодич. функции, описывающей пространственное распределение электронной плотности в кристалле. С. ф. – комплексные величины, определяемые амплитудой |Fhkl| и фазой φhkl. Интенсивность дифрагированного луча Ihkl∝|Fhkl|2. Задача поиска фаз волн, рассеянных атомами элементарной ячейки, решается методами рентгеновского структурного анализа.