СТРУКТУ́РНЫЙ ФА́КТОР

СТРУКТУ́РНЫЙ ФА́КТОР (струк­тур­ная ам­пли­ту­да), ве­ли­чи­на F_h𝑘l, ха­рак­те­ри­зую­щая спо­соб­ность ато­мов в объ­ё­ме эле­мен­тар­ной ячей­ки кри­стал­ла ко­ге­рент­но рас­сеи­вать па­даю­щий рент­ге­нов­ский луч. На­прав­ле­ния рас­се­ян­ных (ди­фра­ги­ро­ван­ных) лу­чей за­да­ют­ся ус­ло­вия­ми Ла­уэ: a(cos α - cos α₀)=hλ ; b(cos β - cos β₀)=kλ ; c(cos γ - cos _γ0)=lλ, где h, k, l – ин­дек­сы Мил­ле­ра (см. в ст. Ин­дек­сы кри­стал­ло­гра­фи­че­ские), α₀, β₀, γ₀ и α, β, γ – уг­лы, об­ра­зуе­мые па­даю­щим и ди­фра­ги­ро­ван­ным лу­ча­ми с рёб­ра­ми a, b, c эле­мен­тар­ной ячей­ки кри­стал­ла, λ – дли­на вол­ны из­лу­че­ния. Рас­сеи­ваю­щая спо­соб­ность отд. ато­ма или ио­на ха­рак­те­ри­зу­ет­ся атом­ным фак­то­ром f. С. ф. кри­стал­ла, эле­мен­тар­ная ячей­ка ко­то­ро­го со­дер­жит N ато­мов, ра­вен сум­ме атом­ных фак­то­ров f_j с учё­том фаз волн, рас­се­ян­ных ато­ма­ми ячей­ки.

С. ф. слу­жат ко­эф­фи­ци­ен­ты ря­да Фу­рье для пе­рио­дич. функ­ции, опи­сы­ваю­щей про­стран­ст­вен­ное рас­пре­де­ле­ние элек­трон­ной плот­но­сти в кри­стал­ле. С. ф. – ком­плекс­ные ве­ли­чи­ны, оп­ре­де­ляе­мые ам­пли­ту­дой |F_hkl| и фа­зой φ_hkl. Ин­тен­сив­ность ди­фра­ги­ро­ван­но­го лу­ча I_hkl∝|F_hkl|². За­да­ча по­ис­ка фаз волн, рас­се­ян­ных ато­ма­ми эле­мен­тар­ной ячей­ки, ре­ша­ет­ся ме­то­да­ми рент­ге­нов­ско­го струк­тур­но­го ана­ли­за.