И́НДЕКСЫ КРИСТАЛЛОГРАФИ́ЧЕСКИЕ
-
Рубрика: Физика
-
-
Скопировать библиографическую ссылку:
Книжная версия:
Электронная версия:
И́НДЕКСЫ КРИСТАЛЛОГРАФИ́ЧЕСКИЕ, три целых числа, определяющие расположение граней и атомных плоскостей кристалла в пространстве (индексы Миллера), а также направлений в кристалле и его рёбер (индексы Вейса) относительно кристаллографич. осей. Прямая и параллельное ей ребро, определяемые индексами Вейса p1,p2,p3 (обозначаются [p1p2p3]), проходят из начала координат O в точку A, определяемую вектором p1a+p2b+p3c, где a,b,c – периоды кристаллич. решётки (изображённая на рис. прямая OA определяется индексами Вейса [124]).
Кристаллографич. плоскость отсекает на осях координат, построенных на векторах a,b,c, отрезки p′1a,p′2b,p′3c (p′1,p′2,p′3 – целые числа). Целочисленные обратные отношения 1/p′1:1/p′2:1/p′3=h:k:l определяют индексы Миллера (hkl) данной плоскости. Напр., для изображённой на рис. плоскости Pp′1=2,p′2=3,p′3=6; величины, обратные этим, 1/2:1/3:1/6 можно привести к целым числам 6/2:6/3:6/6=3:2:1, т. е. плоскость P определяется индексами Миллера (321).
Равенство нулю одного или двух индексов Миллера означает, что плоскости параллельны одной или двум кристаллографич. осям. Отрицательные значения индексов Миллера соответствуют плоскостям, пересекающим оси координат в отрицательных направлениях. Совокупность симметричных граней одной простой формы кристалла обозначается {hkl}. При дифракции рентгеновских лучей индексы h,k,l отражающей плоскости характеризуют одновременно положение дифракционного максимума в обратной решётке.