Подпишитесь на наши новости
Вернуться к началу с статьи up
 

РЕНТГЕ́НОВСКИЙ СПЕКТРА́ЛЬНЫЙ АНА́ЛИЗ

  • рубрика

    Рубрика: Физика

  • родственные статьи
  • image description

    В книжной версии

    Том 28. Москва, 2015, стр. 398

  • image description

    Скопировать библиографическую ссылку:




Авторы: П. С. Анциферов

РЕНТГЕ́НОВСКИЙ СПЕКТРА́ЛЬНЫЙ АНА́ЛИЗ, эле­мент­ный ана­лиз ве­ще­ст­ва на ос­но­ве изу­че­ния его ли­ней­ча­то­го ха­рак­те­ри­стич. рент­ге­нов­ско­го спек­тра. Осн. пре­иму­ще­ст­во Р. с. а. по срав­не­нию со спек­траль­ным ана­ли­зом в ви­ди­мой об­лас­ти спек­тра – от­но­си­тель­но не­боль­шое чис­ло ха­рак­те­ри­стич. ли­ний в дан­ной об­лас­ти спек­тра, что де­ла­ет эле­мент­ный ана­лиз бо­лее про­стым. Это осо­бен­но су­ще­ст­вен­но при ра­бо­те с d- и f-эле­мен­та­ми (см. в ст. Хи­ми­че­ские эле­мен­ты), ви­ди­мые спек­тры ко­то­рых со­дер­жат сот­ни и ты­ся­чи спек­траль­ных ли­ний. При Р. с. а. воз­бу­ж­де­ние рент­ге­нов­ско­го спек­тра про­из­во­дит­ся ли­бо не­по­сред­ст­вен­но элек­трон­ным пуч­ком, ли­бо с по­мо­щью отд. ис­точ­ни­ка рент­ге­нов­ско­го из­лу­че­ния (рент­ге­ноф­луо­рес­цен­ция). Пер­вый спо­соб тре­бу­ет по­ме­ще­ния об­раз­ца в ва­ку­ум; вто­рой спо­соб это­го не тре­бу­ет, по­это­му он по­лу­чил бо­лее ши­ро­кое рас­про­стра­не­ние.

При рент­ге­ноф­луо­рес­цент­ном ана­ли­зе об­ра­зец об­лу­ча­ют из­лу­че­ни­ем пор­та­тив­ной рент­ге­нов­ской труб­ки, ре­ги­ст­ри­ру­ют по­лу­чаю­щий­ся спектр, из­ме­ря­ют ин­тен­сив­но­сти ха­рак­те­ри­стич. ли­ний и ин­тер­пре­ти­ру­ют спектр в тер­ми­нах про­цент­но­го со­дер­жа­ния хи­мич. эле­мен­тов, со­став­ляю­щих об­ра­зец. Для по­лу­че­ния спек­тра в боль­шин­ст­ве при­бо­ров ис­поль­зу­ют по­лу­про­вод­ни­ко­вые про­пор­цио­наль­ные счёт­чи­ки. Гл. про­бле­мой ин­тер­пре­та­ции ли­ний яв­ля­ют­ся т. н. мат­рич­ные эф­фек­ты (за­ви­си­мость ин­тен­сив­но­сти ли­нии дан­но­го хи­мич. эле­мен­та от пол­но­го эле­мент­но­го со­ста­ва ис­сле­дуе­мо­го об­раз­ца), воз­ни­каю­щие вслед­ст­вие раз­ли­чия ко­эф. по­гло­ще­ния рент­ге­нов­ско­го из­лу­че­ния раз­ны­ми эле­мен­та­ми. Пре­дель­ная чув­ст­ви­тель­ность Р. с. а. в сред­нем со­став­ля­ет ок. 0,01%, при­чём ме­тод по­зво­ля­ет иден­ти­фи­ци­ро­вать прак­ти­че­ски все хи­мич. эле­мен­ты в об­раз­цах ве­ще­ст­ва, на­хо­дя­ще­го­ся в лю­бом аг­ре­гат­ном со­стоя­нии.

Со­вме­ще­ние Р. с. а. с тех­ни­кой элек­трон­ной мик­ро­ско­пии да­ёт воз­мож­ность про­во­дить ана­лиз мик­ро­ско­пич. ко­ли­честв ве­ще­ст­ва, а так­же ус­та­нав­ли­вать рас­пре­де­ле­ние дан­но­го ве­ще­ст­ва по об­раз­цу с про­стран­ст­вен­ным раз­ре­ше­ни­ем до 1 мкм (т. н. мик­ро­зон­до­вый ана­лиз). В этом слу­чае ис­поль­зу­ет­ся воз­буж­де­ние ха­рак­те­ри­стич. спек­тров с по­мо­щью ост­рос­фо­ку­си­ро­ван­но­го элек­трон­но­го пуч­ка.

Р. с. а. мо­жет при­ме­нять­ся не толь­ко в ла­бо­ра­то­ри­ях: напр., вы­пус­ка­ют­ся при­бо­ры для Р. с. а. со­ста­ва руд и ми­не­ра­лов в по­ле­вых ус­ло­ви­ях. Р. с. а. ис­поль­зу­ют так­же в элек­тро­ни­ке, био­ло­гии, эко­ло­гии, ар­хео­ло­гии и др.

Лит.: Мик­ро­ана­лиз и рас­тро­вая элек­трон­ная мик­ро­ско­пия. М., 1985.

Вернуться к началу