ИНТЕРФЕРЕ́НЦИЯ ПОЛЯРИЗО́ВАННЫХ ЛУЧЕ́Й
-
Рубрика: Физика
-
Скопировать библиографическую ссылку:
ИНТЕРФЕРЕ́НЦИЯ ПОЛЯРИЗО́ВАННЫХ ЛУЧЕ́Й, возникает при сложении когерентных поляризованных световых волн (см. Поляризация света). И. п. л. впервые изучалась в классич. опытах О. Френеля и Д. Ф. Араго в 1816. Наибольший контраст интерференционной картины можно наблюдать при сложении когерентных волн одного типа поляризации (линейных, круговых, эллиптических). Интерференция отсутствует для волн с ортогональными поляризациями. И. п. л. можно наблюдать в сходящихся и параллельных лучах.
Схема наблюдения И. п. л. в параллельных лучах представлена на рис., а. Световой пучок выходит из поляризатора $N_1$ линейно поляризованным в направлении $N_1N_1$ (рис., б). В пластинке $K$, вырезанной из двоякопреломляющего одноосного кристалла параллельно его оптич. оси $OO$ и расположенной перпендикулярно падающим лучам, происходит разделение колебания $N_1N_1$ на составляющие $A_е$, параллельную оптич. оси (необыкновенную), и $A_о$, перпендикулярную оптич. оси (обыкновенную). Для повышения контраста интерференционной картины угол между $N_1N_1$ и $A_o$ устанавливают равным 45°, при этом амплитуды колебаний $A_е$ и $A_o$ равны. Показатели преломления $n_е$ и $n_o$ для этих двух лучей различны, поэтому на выходе пластины между ними возникает разность фаз $δ= (2πl/λ )(n_0-n_e)$, где $l$ – толщина пластинки, $λ$ – длина волны света. Анализатор $N_2$ из каждого луча $A_е$ и $A_o$ пропускает только составляющие с колебаниями, параллельными его направлению пропускания $N_2N_2$. Если поляризатор и анализатор скрещены ($N_1⊥N_2$), то амплитуды составляющих $A_1$ и $A_2$ равны, а разность фаз между ними $Δ=δ+π$. Т. к. эти составляющие когерентны и линейно поляризованы в одном направлении, они интерферируют. В зависимости от величины $Δ$ на к.-л. участке пластинки наблюдатель видит этот участок тёмным [$Δ=(2k+1)π$, $k$ – целое число] или светлым ($Δ= 2kπ$) в монохроматич. свете и различно окрашенным в белом свете (т. н. хроматич. поляризация).
И. п. л. применяется в кристаллооптике, минералогии и петрографии для диагностики минералов и горных пород, для определения ориентации кристаллов и изучения их дефектов. И. п. л. используется в поляризационных приборах: поляриметрах, интерференционно-поляризационных фильтрах, компенсаторах, фазовых модуляторах.