ЭЛЕКТРО́ННО-ОПТИ́ЧЕСКИЙ ПРЕОБРАЗОВА́ТЕЛЬ

ЭЛЕКТРО́ННО-ОПТИ́ЧЕСКИЙ ПРЕОБ­РА­ЗОВА́ТЕЛЬ (ЭОП), ва­ку­ум­ный фо­то­элек­трон­ный при­бор, пред­на­зна­чен­ный для пре­об­ра­зо­ва­ния не­ви­ди­мо­го гла­зом изо­бра­же­ния объ­ек­та в ви­ди­мое или слу­жа­щий для уси­ле­ния яр­ко­сти ви­ди­мо­го изо­бра­же­ния. Обыч­но со­сто­ит из фо­то­ка­то­да, элек­трон­но-оп­ти­че­ской сис­те­мы (ЭОС) и ка­то­до­лю­ми­нес­цент­но­го эк­ра­на. Фо­то­ка­тод пре­об­ра­зу­ет пер­вич­ное оп­тич. изо­бра­же­ние в элек­трон­ное изо­бра­же­ние, ко­то­рое с по­мо­щью ЭОС пе­ре­но­сит­ся на эк­ран, где, в свою оче­редь, пре­об­ра­зу­ет­ся в све­то­вое (ви­ди­мое) изо­бра­же­ние.

В ЭОП под дей­ст­ви­ем из­лу­че­ния от объ­ек­та с по­верх­но­сти фо­то­ка­то­да эми­ти­ру­ют­ся элек­тро­ны (фо­то­ток), при­чём ве­ли­чи­на фо­то­то­ка с разл. уча­ст­ков фо­то­ка­то­да из­ме­ня­ет­ся в со­от­вет­ст­вии с рас­пре­де­ле­ни­ем плот­но­сти спрое­ци­ро­ван­но­го на не­го изо­бра­же­ния (см. Фо­то­элек­трон­ная эмис­сия). Фо­то­элек­тро­ны, ус­ко­рен­ные и сфо­ку­си­ро­ван­ные по­лем ЭОС, бом­бар­ди­ру­ют эк­ран, вы­зы­вая его лю­ми­нес­цен­цию. Ин­тен­сив­ность све­че­ния отд. уча­ст­ков эк­ра­на за­ви­сит от плот­но­сти фо­то­то­ка, вслед­ст­вие че­го на эк­ра­не воз­ни­ка­ет ви­ди­мое (вто­рич­ное) изо­бра­же­ние объ­ек­та.

Уси­ле­ние яр­ко­сти оп­тич. изо­бра­же­ния дос­ти­га­ет­ся в ре­зуль­та­те со­об­ще­ния элек­тро­нам до­пол­нит. ус­ко­ре­ния ли­бо за счёт сжа­тия по­то­ка фо­то­элек­тро­нов. Для уси­ле­ния яр­ко­сти изо­бра­же­ния при­ме­ня­ют мно­го­кас­кад­ные пре­об­ра­зо­ва­те­ли, пред­став­ляю­щие со­бой по­сле­до­ват. со­еди­не­ние не­сколь­ких отд. ЭОП, за­клю­чён­ных в еди­ную ва­ку­ум­но-плот­ную обо­лоч­ку.

Прин­цип ра­бо­ты ЭОП впер­вые опи­сан ни­дерл. учё­ны­ми Г. Хол­стом и Я. Х. де Бу­ром в 1934. ЭОП при­ме­ня­ют­ся в ИК-тех­ни­ке, спек­тро­ско­пии, ме­ди­ци­не, мик­ро­био­ло­гии, ядер­ной фи­зи­ке, ас­тро­но­мии и др. об­лас­тях. Их ис­поль­зу­ют при оп­тич. и мик­ро­ско­пич. ис­сле­до­ва­ни­ях, для на­блю­де­ния ма­ло­кон­тра­ст­ных и сла­бо­ос­ве­щён­ных объ­ек­тов, для ви­де­ния в тем­но­те (при ос­ве­ще­нии объ­ек­тов ИК-лу­ча­ми) и т. д. Соз­да­ны ЭОП для ре­ги­ст­ра­ции быс­тро­про­те­каю­щих про­цес­сов со све­то­вым, рент­ге­нов­ским и кор­пус­ку­ляр­ным из­лу­че­ни­ем (вре­менно́е раз­ре­ше­ние 10 пс).