ЭЛЕКТРО́ННЫЕ ПРИ́ЗМЫ

ЭЛЕКТРО́ННЫЕ ПРИ́ЗМЫ, элек­трон­но-оп­ти­че­ские сис­те­мы, от­кло­няю­щие пуч­ки за­ря­жен­ных час­тиц или раз­де­ляю­щие та­кие час­ти­цы по энер­ги­ям и мас­сам. Э. п. на­зва­ны в рам­ках об­щей ана­ло­гии ме­ж­ду элек­трон­ной и ион­ной оп­ти­кой и оп­ти­кой све­то­вых лу­чей. Сре­ди мно­го­числ. ти­пов Э. п. наи­бо­лее близ­ки­ми ана­ло­га­ми све­то­оп­тич. призм яв­ля­ют­ся Э. п., ко­то­рые ос­тав­ля­ют па­даю­щий на них па­рал­лель­ный пу­чок за­ря­жен­ных час­тиц па­рал­лель­ным и по­сле от­кло­не­ния.

Про­стей­шая элек­тро­ста­тич. Э. п. та­ко­го ти­па – те­ле­ско­пич. сис­те­ма из двух ци­лин­д­рич. им­мер­си­он­ных элек­трон­ных линз, в ко­то­рой зад­ний ли­ней­ный фо­кус пер­вой лин­зы сов­па­да­ет с пе­ред­ним ли­ней­ным фо­ку­сом вто­рой. Элек­тро­ста­тич. по­ле те­ле­ско­пич. сис­те­мы дву­мер­но и сим­мет­рич­но от­но­си­тель­но ср. плос­ко­сти, вбли­зи ко­то­рой дви­жут­ся час­ти­цы. Па­рал­лель­ный пу­чок па­да­ет на те­ле­ско­пич. сис­те­му под уг­лом φ₁ к оси и вы­хо­дит под уг­лом φ₂, со­хра­няя свою па­рал­лель­ность. При этом вы­пол­ня­ет­ся ра­вен­ст­во (V₁ и V₂ – по­тен­циа­лы пер­во­го и по­след­не­го уча­ст­ков Э. п.), т. е. от­кло­не­ние пуч­ка за­ря­жен­ных час­тиц в те­ле­ско­пич. сис­те­ме под­чи­ня­ет­ся за­ко­ну, ана­ло­гич­но­му Снел­ла за­ко­ну пре­лом­ле­ния. Для уве­ли­че­ния дис­пер­сии при­ме­ня­ют слож­ную Э. п., со­стоя­щую из двух те­ле­ско­пич. сис­тем, рас­по­ло­жен­ных под уг­лом друг к дру­гу. Та­кие Э. п. слу­жат дис­пер­ги­рую­щи­ми эле­мен­та­ми в элек­трон­ных спек­тро­мет­рах.

В маг­нит­ных Э. п. с дву­мер­ным по­лем роль ци­лин­д­рич. линз иг­ра­ют по­ля рас­сея­ния на кра­ях маг­нит­ных по­лю­сов. При оп­ре­де­лён­ном уг­ле па­де­ния пуч­ка на приз­му эти по­ля об­ра­зу­ют те­ле­ско­пич. сис­те­му. Э. п. ши­ро­ко при­ме­ня­ют­ся в бе­та-спек­тро­мет­рах, масс-спек­тро­мет­рах.