ЛА́УЭ МЕ́ТОД

ЛА́УЭ МЕ́ТОД (по­ли­хро­ма­ти­че­ский ме­тод), ме­тод рент­ге­нов­ско­го струк­тур­но­го ана­ли­за, один из трёх осн. ме­то­дов по­лу­че­ния ди­фрак­ци­он­ной кар­ти­ны, соз­да­вае­мой кри­стал­ла­ми. На­зван по име­ни М. Лауэ, пред­ло­жив­ше­го этот ме­тод. Впер­вые при­ме­нён в 1912, ко­гда с его по­мо­щью бы­ла по­лу­че­на пер­вая лауэ­грам­ма.

В Л. м. ди­фрак­ци­он­ная кар­ти­на соз­да­ёт­ся при об­лу­че­нии не­под­виж­но­го мо­но­кри­стал­ла пуч­ком рент­ге­нов­ских лу­чей с не­пре­рыв­ным спек­тром. Об­лу­чае­мый кри­сталл ук­ре­п­ля­ет­ся на го­нио­мет­рич. го­лов­ке. Ди­фрак­ци­он­ная кар­ти­на (по­ло­же­ние ди­фрак­ци­он­ных мак­си­му­мов и их ин­тен­сив­ность) ре­ги­ст­ри­ру­ет­ся рент­ге­нов­ской фо­то­плён­кой или рент­ге­нов­ским двух­ко­ор­ди­нат­ным де­тек­то­ром. Ди­фрак­ци­он­ную кар­ти­ну, по­лу­чае­мую не­по­сред­ст­вен­но за кри­стал­лом, на­зы­ва­ют лауэ­грам­мой. Ес­ли же изу­чае­мый кри­сталл со­сто­ит из тя­жё­лых ато­мов или име­ет слиш­ком боль­шие раз­ме­ры, что­бы сквозь не­го мог­ло прой­ти рент­ге­нов­ское из­лу­че­ние, то кас­се­ту с плён­кой (или др. де­тек­тор) ус­та­нав­ли­ва­ют пе­ред кри­стал­лом. Та­кая рент­ге­но­грам­ма, по­лу­чае­мая при ре­ги­ст­ра­ции лу­чей, от­ра­жён­ных гра­ня­ми кри­стал­ла, на­зы­ва­ет­ся эпи­грам­мой. В обо­их слу­ча­ях кас­се­та с плён­кой рас­по­ла­га­ет­ся пер­пен­ди­ку­ляр­но на­прав­ле­нию рент­ге­нов­ских лу­чей.

Л. м. дол­гое вре­мя при­ме­нял­ся лишь для оп­ре­де­ле­ния сим­мет­рии и про­стран­ст­вен­ной ори­ен­та­ции кри­стал­ла. Ус­пеш­но рас­шиф­ро­вать струк­ту­ру кри­стал­ла этот ме­тод не по­зво­лял из-за не­воз­мож­но­сти точ­ной оцен­ки ин­тен­сив­но­сти ди­фрак­ци­он­ных лу­чей. Од­на­ко по­сле по­яв­ле­ния дос­туп­ных ис­точ­ни­ков син­хро­трон­но­го из­лу­че­ния и вы­со­ко­эф­фек­тив­ных двух­ко­ор­ди­нат­ных рент­ге­нов­ских де­тек­то­ров об­ласть при­ме­не­ния Л. м. зна­чи­тель­но рас­ши­ри­лась. В ча­ст­но­сти, Л. м. по­зво­лил по­лу­чить ди­фрак­ци­он­ное изо­бра­же­ние мак­ро­мо­ле­ку­ляр­ных объ­ек­тов с наи­мень­ши­ми за­тра­та­ми. Др. ме­то­ды рент­ге­но­ст­рук­тур­но­го ана­ли­за, при­ме­няв­шие­ся ра­нее к этим объ­ек­там, очень дли­тель­ны и тру­до­ём­ки.

По­сколь­ку в Л. м. ис­поль­зу­ет­ся не­пре­рыв­ный спектр из­лу­че­ния, по­лу­чае­мая ди­фрак­ци­он­ная кар­ти­на в од­ном сним­ке не­сёт ин­фор­ма­цию обо всех атом­ных плос­ко­стях кри­стал­ла. Др. ме­то­ды ис­поль­зу­ют мо­но­хро­ма­тич. из­лу­че­ние и тре­бу­ют мно­же­ст­ва сним­ков, вы­пол­нен­ных при разл. по­ло­же­ни­ях кри­стал­ла. Т. о., к нач. 21 в. Л. м. ока­зал­ся са­мым бы­ст­рым из ме­то­дов сбо­ра ди­фрак­ци­он­ных дан­ных, что обу­сло­ви­ло его при­ме­не­ние для изу­че­ния пе­ре­ход­ных струк­тур, воз­ни­каю­щих в ре­аль­ных кри­стал­ло­хи­мич. ре­ак­ци­ях с фем­то­се­кунд­ной экс­по­зи­ци­ей.