Подпишитесь на наши новости
Вернуться к началу с статьи up
 

ДИФРА́КЦИЯ ЭЛЕКТРО́НОВ

  • рубрика

    Рубрика: Физика

  • родственные статьи
  • image description

    В книжной версии

    Том 9. Москва, 2007, стр. 91-92

  • image description

    Скопировать библиографическую ссылку:




Авторы: С. А. Семилетов

ДИФРА́КЦИЯ ЭЛЕКТРО́НОВ, уп­ру­гое рас­сея­ние пуч­ка элек­тро­нов ато­ма­ми и/или мо­ле­ку­ла­ми ве­ще­ст­ва, при ко­то­ром из пер­вич­но­го пуч­ка об­ра­зу­ют­ся от­кло­нён­ные на оп­ре­де­лён­ные уг­лы пуч­ки элек­тро­нов (т. н. ди­фрак­ци­он­ные пуч­ки). Чис­ло та­ких пуч­ков, их ин­тен­сив­ность и уг­лы от­кло­не­ния от на­прав­ле­ния рас­про­стра­не­ния пер­вич­но­го пуч­ка оп­ре­де­ля­ют­ся струк­ту­рой рас­сеи­ваю­ще­го объ­ек­та (кри­стал­ла, жид­ко­сти или га­за). Д. э., от­кры­тая в 1927 К. Дэ­вис­со­ном и Л. Джер­ме­ром, яви­лась под­твер­жде­ни­ем ги­по­те­зы Л. де Брой­ля о вол­но­вых свой­ст­вах час­тиц.

Для соз­да­ния пер­вич­но­го элек­трон­но­го пуч­ка элек­тро­ны ус­ко­ря­ют элек­трич. по­лем, в ко­то­ром элек­трон с за­ря­дом $e$ и мас­сой $m$ при­об­ре­та­ет энер­гию $eE$ ($E$ – прой­ден­ная им раз­ность по­тен­циа­лов), ко­то­рая рав­на ки­не­тич. энер­гии $mv^2/2$ элек­тро­на, ус­ко­рен­но­го по­лем. Сле­до­ва­тель­но, ско­рость элек­тро­на $v=(2eE/m)^{1/2}$. Дли­на вол­ны де Брой­ля элек­тро­на $λ=h/mv$ ($h$ – по­сто­ян­ная План­ка), т. е. оп­ре­де­ля­ет­ся его ско­ро­стью $v$ или энер­ги­ей $eE$. При энер­ги­ях от де­сят­ков до со­тен эВ дли­на вол­ны элек­тро­на по­па­да­ет в рент­ге­нов­ский диа­па­зон длин волн; та­кие элек­тро­ны на­зы­ва­ют­ся мед­лен­ны­ми. Элек­тро­нам с энер­ги­ей в де­сят­ки кэВ со­от­вет­ст­ву­ют дли­ны волн гам­ма-диа­па­зо­на; элек­тро­ны та­ких и бо­лее вы­со­ких энер­гий на­зы­ва­ют­ся бы­ст­ры­ми, для них ста­но­вят­ся су­ще­ст­вен­ны­ми ре­ля­ти­ви­ст­ские по­прав­ки в за­ви­си­мо­сти $λ$ от $E$.

Схема опыта Дэвиссона и Джермера: К – монокристалл никеля, вращающийся вокруг оси О; Э – электронная пушка; Ф – цилиндр Фарадея.

В опы­те Дэ­вис­со­на и Джер­ме­ра уз­кий пу­чок элек­тро­нов па­дал на по­верх­ность мо­но­кри­стал­ла ни­ке­ля пер­пен­ди­ку­ляр­но од­ной из его кри­стал­ло­гра­фич. плос­ко­стей (рис.). Рас­пре­де­ле­ние рас­се­ян­ных элек­тро­нов ре­ги­ст­ри­ро­ва­лось с по­мо­щью галь­ва­но­мет­ра, под­клю­чён­но­го к ци­лин­д­ру Фа­ра­дея (при­бо­ру, в ко­то­рый по­па­да­ют про­взаи­мо­дей­ст­во­вав­шие с ве­ще­ст­вом элек­тро­ны). Под оп­ре­де­лён­ны­ми уг­ла­ми $θ$ на­блю­да­лись мак­си­му­мы ин­тен­сив­но­сти (ди­фрак­ци­он­ные мак­си­му­мы); их по­ло­же­ние от­ве­ча­ло ус­ло­вию Брэг­га – Вуль­фа (вы­ве­ден­но­му ра­нее для рент­ге­нов­ско­го из­лу­че­ния): $2d\sinθ=nλ$, где $d$ – меж­пло­ско­ст­ное рас­стоя­ние в ни­ке­ле, $n$ – це­лое по­ло­жи­тель­ное чис­ло, на­зы­вае­мое по­ряд­ком ди­фрак­ции.

Тео­рия Д. э. ана­ло­гич­на тео­рии ди­фрак­ции рент­ге­нов­ских лу­чей. Од­на­ко в от­ли­чие от рент­ге­нов­ско­го из­лу­че­ния, ко­то­рое рас­сеи­ва­ет­ся на элек­трон­ной плот­но­сти ато­мов, элек­тро­ны, об­ла­даю­щие элек­трич. за­ря­дом, взаи­мо­дей­ст­ву­ют с элек­тро­ста­тич. по­лем ато­ма, вклад в ко­то­рое вно­сят как элек­тро­ны ато­ма, так и его по­ло­жи­тель­но за­ря­жен­ное яд­ро. Рас­сеи­ваю­щая спо­соб­ность ато­ма за­ви­сит от его строе­ния и раз­лич­на для ато­мов раз­ных хи­мич. эле­мен­тов. Она ха­рак­те­ри­зу­ет­ся атом­ной ам­пли­ту­дой рас­сея­ния, про­пор­цио­наль­ной атом­но­му но­ме­ру эле­мен­та и бы­ст­ро па­даю­щей с уве­ли­че­ни­ем $θ$. Ин­тен­сив­ность ди­фрак­ци­он­ных пуч­ков элек­тро­нов про­пор­цио­наль­на квад­ра­ту атом­ной ам­пли­ту­ды рас­сея­ния, т. е. так­же со­дер­жит ин­фор­ма­цию о рас­сеи­ваю­щем ато­ме. Элек­тро­ны взаи­мо­дей­ст­ву­ют с ато­ма­ми в мил­лио­ны раз силь­нее, чем рент­ге­нов­ское из­лу­че­ние; ин­тен­сив­ность ди­фрак­ци­он­ных пуч­ков элек­тро­нов пре­вы­ша­ет на 6–7 по­ряд­ков ин­тен­сив­ность рент­ге­нов­ских ди­фрак­ци­он­ных мак­си­му­мов.

На ис­поль­зо­ва­нии яв­ле­ния Д. э. ос­но­ван один из ме­то­дов струк­тур­но­го ана­ли­за ве­ще­ст­ва – элек­тро­но­гра­фия, ко­то­рая ис­сле­ду­ет струк­ту­ру кри­стал­лов, га­зов, жид­ко­стей, аморф­ных тел и био­ло­гич. объ­ек­тов. Сим­мет­рия ди­фрак­ци­он­ной кар­ти­ны (элек­тро­но­грам­мы) со­дер­жит ин­фор­ма­цию о ти­пе кри­стал­лич. ре­шёт­ки; ана­лиз ин­тен­сив­но­сти ди­фрак­ци­он­ных мак­си­му­мов по­зво­ля­ет по­лу­чить бо­лее пол­ную ин­фор­ма­цию о со­ста­ве и строе­нии кри­стал­ла. Ди­фрак­цию бы­ст­рых элек­тро­нов (с энер­ги­ей по­ряд­ка 104 –106  эВ) ис­поль­зу­ют в про­све­чи­ваю­щей элек­трон­ной мик­ро­ско­пии, по­зво­ляю­щей ана­ли­зи­ро­вать струк­ту­ру ве­ществ вплоть до атом­ных мас­шта­бов. Ди­фрак­ция мед­лен­ных элек­тро­нов при­ме­ня­ет­ся для изу­че­ния струк­ту­ры при­по­верх­но­ст­ных сло­ёв твёр­дых тел, ад­сор­би­ро­ван­ных сло­ёв, на­чаль­ных ста­дий окис­ле­ния, эпи­так­сии, ре­кон­ст­рук­ции по­верх­но­сти по­лу­про­вод­ни­ков с об­ра­зо­ва­ни­ем сверх­струк­тур.

Д. э. внут­ри са­мо­го кри­стал­ла из­ме­ня­ет ха­рак­тер не­уп­ру­гих про­цес­сов. Ана­лиз за­ви­си­мо­сти ве­ро­ят­но­сти этих про­цес­сов от энер­гии элек­тро­нов и уг­ла па­де­ния их пуч­ка на кри­сталл ле­жит в ос­но­ве элек­трон­ной спек­тро­ско­пии.

Лит.: Пин­скер З. Г. Ди­фрак­ция элек­тро­нов. М.; Л., 1949; Кау­ли Дж. Фи­зи­ка ди­фрак­ции. М., 1979.

Вернуться к началу