МУЛЬТИМЕ́ТР

МУЛЬТИМЕ́ТР (от лат. multum – мно­го и …метр), мно­го­функ­цио­наль­ный элек­тро­из­ме­рит. при­бор, пред­на­зна­чен­ный для из­ме­ре­ния не­сколь­ких фи­зич. ве­ли­чин – элек­трич. на­пря­же­ния, си­лы то­ка, элек­трич. со­про­тив­ле­ния и др. Су­ще­ст­ву­ют ана­ло­го­вые и циф­ро­вые М. Наи­боль­шее рас­про­стра­не­ние по­лу­чи­ли циф­ро­вые М., по­стро­ен­ные на ба­зе циф­ро­вых вольт­мет­ров по­сто­ян­но­го то­ка и пре­об­ра­зо­ва­те­лей из­ме­ряе­мых ве­ли­чин в на­пря­же­ние по­сто­ян­но­го то­ка (ино­гда их вы­пол­ня­ют в ви­де смен­ных бло­ков). При из­ме­ре­нии пе­ре­мен­но­го на­пря­же­ния в М. при­ме­ня­ют пре­об­ра­зо­ва­те­ли сред­не­го по мо­ду­лю и сред­не­квад­ра­тич. (дей­ст­вую­ще­го) зна­че­ний. По об­лас­ти при­ме­не­ния М. под­раз­де­ля­ют­ся на ла­бо­ра­тор­ные, сис­тем­ные и щи­то­вые. М. мо­жет быть как лёг­ким пе­ре­нос­ным уст­рой­ст­вом, ис­поль­зуе­мым для ба­зо­вых из­ме­рений и по­ис­ка не­ис­прав­но­стей, так и слож­ным ста­цио­нар­ным при­бо­ром. Точ­ность из­ме­ре­ний оп­ре­де­ля­ет­ся гл. обр. ана­ло­го-циф­ро­вым пре­об­ра­зо­ва­те­лем, вхо­дя­щим в со­став М., за­ви­сит так­же от тер­мо- и вре­менно́й ста­биль­но­сти ис­поль­зуе­мых эле­мен­тов, ка­че­ст­ва за­щи­ты от внеш­них на­во­док и ка­либ­ров­ки при­бо­ра. Совр. мо­де­ли М. по точ­но­сти и раз­ре­шаю­щей спо­соб­но­сти близ­ки к эта­ло­нам; по­греш­ность в за­ви­си­мо­сти от кон­ст­рук­ции, на­зна­че­ния и диа­па­зо­на из­мере­ний со­став­ля­ет от еди­ниц до 10^–5% и ме­нее.

По­ми­мо вы­со­ких мет­ро­ло­гич. по­ка­за­те­лей, совр. М. ха­рак­те­ри­зу­ют­ся рас­ши­рен­ны­ми функ­цио­наль­ны­ми воз­мож­но­стя­ми. Сре­ди до­пол­нит. функ­ций, вы­пол­няе­мых не­ко­то­ры­ми мо­де­ля­ми М.: ариф­ме­тич. опе­ра­ции над ре­зуль­та­та­ми из­ме­ре­ний и их ста­ти­стич. об­ра­бот­ка; про­звон­ка – из­ме­ре­ние элек­трич. со­про­тив­ле­ния со зву­ко­вой (ино­гда и све­то­вой) сиг­на­ли­за­ци­ей низ­ко­го со­про­тив­ле­ния це­пи (обыч­но ме­нее 50 Ом); ге­не­ра­ция тес­то­во­го сиг­на­ла про­стей­шей фор­мы (гар­мо­нич. или им­пульс­но­го); про­вер­ка це­ло­ст­но­сти по­лу­про­вод­ни­ко­вых дио­дов и тран­зи­сто­ров; из­ме­ре­ние элек­трич. ём­ко­сти и ин­дук­тив­но­сти; из­ме­ре­ние темп-ры с при­ме­не­ни­ем внеш­не­го дат­чи­ка (как пра­ви­ло, тер­мо­па­ры); из­ме­ре­ние час­то­ты гар­мо­нич. сиг­на­ла. Тех­нич. со­вер­шен­ст­во­ва­ние М. свя­за­но гл. обр. с ис­поль­зо­ва­ни­ем встро­ен­ных мик­ро­ЭВМ, вы­пол­нен­ных на ос­но­ве мик­ро­про­цес­со­ров и од­но­кри­сталь­ных мик­ро­кон­трол­ле­ров. См. так­же Циф­ро­вой при­бор.