ФИ́ЗИКИ МИКРОСТРУКТУ́Р ИНСТИТУ́Т

ФИ́ЗИКИ МИКРОСТРУКТУ́Р ИНСТИТУ́Т (ИФМ) РАН, г. Ниж­ний Нов­го­род. Об­ра­зо­ван в 1993 на ба­зе От­де­ле­ния фи­зи­ки твёр­до­го те­ла Ин-та при­клад­ной фи­зи­ки РАН. Пер­вый ди­рек­тор ин-та (1993–2009) – акад. РАН С. В. Га­по­нов. В ИФМ про­во­дят­ся фун­дам. и при­клад­ные на­уч. ис­сле­до­ва­ния в об­лас­ти фи­зи­ки твер­до­тель­ных на­но­ст­рук­тур, сверх­про­вод­ни­ков и мно­го­слой­ной рент­ге­нов­ской оп­ти­ки. В ин-те впер­вые по­лу­че­но сти­му­ли­ро­ван­ное те­ра­гер­це­вое из­лу­че­ние в n-Si при внут­ри­зон­ном оп­тич. воз­бу­ж­де­нии. Раз­ра­бо­та­на тех­но­ло­гия из­го­тов­ле­ния эле­мен­тов мно­го­слой­ной оп­ти­ки рент­ге­нов­ско­го и УФ-диа­па­зо­нов. Впер­вые соз­да­на кван­то­вая ме­ра на­пря­же­ния на ос­но­ве джо­зеф­со­нов­ских кон­так­тов из вы­со­ко­тем­пе­ра­тур­ных сверх­про­вод­ни­ков. Раз­ра­бо­та­ны эле­мен­ты крем­ние­вой на­но­оп­ти­ки, ра­диа­ци­он­ностой­кой маг­нит­ной па­мя­ти, МЭМС-виб­ро­ак­се­ле­ро­мет­ры. Соз­да­ны при­бо­ры и ме­то­ды те­ра­гер­це­вой спек­тро­ско­пии га­зов и по­лу­про­вод­ни­ко­вых на­но­ст­рук­тур. В со­ста­ве ИФМ 6 на­уч. от­де­лов, На­уч­но-об­ра­зо­ват. центр, Центр кол­лек­тив­но­го поль­зо­ва­ния «Фи­зи­ка и тех­но­ло­гия мик­ро- и на­но­ст­рук­тур».