КРИСТАЛЛОФОСФО́РЫ

КРИСТАЛЛОФОСФО́РЫ (от кри­стал­лы и греч. φωσφόρος – све­то­нос­ный), не­ор­га­нич. кри­стал­лич. лю­ми­но­фо­ры. Све­че­ние К. мо­жет воз­бу­ж­дать­ся элек­тро­маг­нит­ным из­лу­че­ни­ем (в т. ч. све­том), по­то­ком элек­тро­нов, элек­трич. то­ком и др. К. мо­гут быть толь­ко по­лу­про­вод­ни­ки и ди­элек­три­ки. Цен­тры све­че­ния К. воз­ни­ка­ют на де­фек­тах кри­стал­лич. ре­шёт­ки или в мес­тах вне­дре­ния спец. при­ме­сей – ак­ти­ва­то­ров. Лю­ми­нес­цен­ция К. мо­жет быть вы­зва­на как не­по­сред­ст­вен­ным воз­бу­ж­де­ни­ем цен­тров све­че­ния, так и по­гло­ще­ни­ем кри­стал­лич. ре­шёт­кой энер­гии воз­бу­ж­де­ния с по­сле­дую­щей пе­ре­да­чей её цен­трам све­че­ния. Ре­ком­би­на­ция элек­тро­нов и ды­рок в К. так­же со­про­во­ж­да­ет­ся све­че­ни­ем. Дли­тель­ность по­слес­ве­че­ния К. из­ме­ня­ет­ся в очень ши­ро­ких пре­де­лах – от 10^–9 с до де­сят­ков ча­сов.

Ос­но­вой К. слу­жат суль­фи­ды, се­ле­ни­ды и тел­лу­ри­ды Zn, Cd, ок­си­ды Ca, Mn, га­ло­ге­ни­ды ще­лоч­ных ме­тал­лов, а так­же со­еди­не­ния Ga. В ка­че­ст­ве ак­ти­ва­то­ров ис­поль­зу­ют ио­ны Cu, Ag, Co, Mn и не­ко­то­рые ио­ны ред­ко­зе­мель­ных эле­мен­тов. Вве­де­ние ак­ти­ва­то­ров про­во­дит­ся ли­бо в про­цес­се из­го­тов­ле­ния К., ли­бо по­сле­дую­щей им­план­та­цией ио­нов в го­то­вый ма­те­ри­ал ос­но­вы. Ком­би­ни­руя ак­ти­ва­то­ры и ос­но­вы, син­те­зи­ру­ют К., пре­об­ра­зую­щие разл. ви­ды энер­гии в ви­ди­мый свет за­дан­ных цве­тов. Кпд та­ких пре­об­ра­зо­ва­ний энер­гии при­бли­жа­ет­ся к 100%. Соз­да­ны К., пре­об­ра­зую­щие ИК-из­лу­че­ние в ви­ди­мое, К., яр­кость лю­ми­нес­цен­ции ко­то­рых воз­рас­та­ет или умень­ша­ет­ся под дей­ст­ви­ем ИК-из­лу­че­ния или на­гре­ва­ния, и др. Та­кие свой­ст­ва К. на­хо­дят ши­ро­кое при­ме­не­ние в тех­ни­ке: К. ис­поль­зу­ют­ся в лю­ми­нес­цент­ных лам­пах, све­то­дио­дах, эк­ра­нах те­ле­ви­зо­ров и ос­цил­ло­гра­фов, элек­тро­лю­ми­нес­цент­ных па­не­лях и др. К. с ма­лым вре­ме­нем по­слес­ве­че­ния при­ме­ня­ют в сцин­ти­лля­ци­он­ных де­тек­то­рах для ре­ги­ст­ра­ции бы­ст­рых эле­мен­тар­ных час­тиц и ядер­ных из­лу­че­ний. Не­ко­то­рые К. мо­гут при­ме­нять­ся в ка­че­ст­ве ак­тив­ной сре­ды в по­лу­про­вод­ни­ко­вых ла­зе­рах.